<Dell-SAP コンピテンスセンターからの発信です>

 

デル株式会社 エンタープライズソリューション&アライアンス部門で SAP ソリューションを担当しています菅谷です。 

 

 

ラボ検証の第一弾として SAP HANA System Replication の検証結果を報告させていただきました。

この度、第二段として TIS株式会社様と SAPジャパン様のご協力を得ながら、SAP HANA Dynamic Tiering の検証を行いました。

 

 

Dynamic Tiering とは?

 

 

SAP HANA はインメモリーデータベースであり、すべてのデータをメモリー上に配置しますが、データが数TB となってくるとサーバのメモリーコストが大きくなる課題が出てきます。

頻繁にアクセスするデータ (Hot Data) を高速なメモリー上に配置し、アクセス頻度が低いデータ (Warm Data) をディスク上に配置することで大量データをハンドリングするシステムメモリの使用量を最適化する機能です。

 

以下のような検証環境を用いて、Hot/Warm のハイブリッドデータに関わるクエリのパフォーマンス検証、および、Hot Data Warm Data としてディスクにデータ移動する際の運用性確認とパフォーマンス検証を実施しています。

 

【検証環境】

 

 

検証を通じて、設計および開発のポイントが把握できました。

なお、この検証結果は 2016年9月14日に TIS様 / SAP様との共同セミナーで詳しく紹介いたします。 

 

セミナーのお申し込みはこちらまで⇒ Dell.co.jp/DWH/Q3

 

本日時では報告の「予告編」程度のお話で申し訳ございません。

本件についてお急ぎで情報が必要な方はこちらまでお問い合わせください。